形貌观察（SEM）（金相检测）
检测标准：
JY/T 010-1996
备注：
分析型扫描电子显微镜方法通则（SEM（扫描电子显微镜））
1.需要客户指定测试位置；
2.若有指定方法倍数，需提供，一般设备的最大倍数在1万倍，过大会导致图片模糊（1万倍以上需咨询）；
3.若无指定，一般我们从低倍到高倍进行拍照（4～5个倍数）。
4.要求样品尺寸在10*10*10厘米以内，超过需加收制样费，或者难取样样品需加收制样费，不清楚的话可咨询技支评估
样品要求：
样品有可供观察的平面
试验测试周期：
10个工作日
